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低本底测量仪主要技术指标

主要技术指标

仪器对于90sr-90yβ源活性区φ20mm的2π探测效率比***50％时， 本底≤0.15cm-2min-1；

仪器对于241amα源活性区φ25mm的2π探测效率比***80％时， 本底≤0.005cm-2min-1；

α／β交叉性能：α进入β道的计数比＜3％对241am， β进入α道的计数比＜0.5％对于90sr-90y；

长期稳定性

重复性：仪器连续通电8小时，探测效率变化＜±10％；

本底稳定性：在8小时的测量时间内，本底计数变化应在(nb±3σ)的范围内,其中nb为本底计数的平均值，σ为本底计数的标准误差。

仪器灵敏度：α***5×10-3bq；β***1×10-2bq

耐压绝缘度＞1500v；

绝缘电阻***2mω；

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中核控制是您-的选择

低本底的测量方式

中核控制系统工程有限公司生产、销售低本底，我们为您分析该产品的以下信息。如有需要，欢迎拨打图片上的热线电话进行咨询。

1、可以同时测量αβ，也可单独测α或β；

2、测量过程和测量结果可在显示器上显示，并可打印结果；

3、测量时间、探测器的α阈值、β低阈(βl)、β高阈(βh)和高压都可根据要求，通过计算机调节。

低本底大面积 α 屏栅电离室

2.1 屏栅电离室的结构和主要参数

为防止样品制备过程中丢失核素，也为省去通常比较费时的化学分离，把待测介质薄薄地铺成大面积薄样是很理想的 α 能谱分析方法。

2.2 大面积源样品的制备

为利用屏栅电离室进行 α 能谱分析，制备出符合要求的大面积均匀薄源是十分关键的。假若样品本身不够薄 和不均匀，那探测器本身的能量分辨本领再高也是没有用的，因为样品自吸收会产生很大的 α 能谱的“尾巴 ”，从而使对 α 能谱的分辨本领遭到-破坏。